[发明专利]一种应用固相萃取直接进样的高分辨率质谱分析方法在审
| 申请号： | 201710795431.5 | 申请日： | 2017-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN107607611A | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 秦磊;赵子源;周大勇;徐献兵;杜明;张玉莹;黄旭辉 | 申请（专利权）人： | 大连工业大学 |
| 主分类号： | G01N27/68 | 分类号： | G01N27/68;G01N1/40;B01J20/26;B01J20/32;B01D15/10 |
| 代理公司： | 大连格智知识产权代理有限公司21238 | 代理人： | 刘琦 |
| 地址： | 116034 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种应用固相萃取直接进样的高分辨率质谱分析方法，采用涂覆涂层的固相萃取直接进样棒吸附萃取溶液中的目标物，将吸附有目标物的固相萃取直接进样棒插入到大气压化学电离源中，经解吸附、电离后通过高分辨率质谱完成检测。固相萃取直接进样棒表面涂覆的涂层为由第一单体、第二单体及功能单体组成的共聚物；第一单体为三甲氧基甲基硅烷，第二单体为以羟基封端聚二甲氧基硅烷，功能单体为二乙烯基苯、β‑环糊精、1‑烯丙基咪唑‑四氟硼酸盐中的一种或多种组合。本发明方法对于多种多环芳烃类等极性化合物有较好的富集和响应，同时免除复杂的前处理过程，达到快速检测的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用 萃取 直接 高分辨率 谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种应用固相萃取直接进样的高分辨率质谱分析方法，其特征在于，采用涂覆涂层的固相萃取直接进样棒吸附萃取溶液中的目标物，将吸附有目标物的固相萃取直接进样棒插入到大气压化学电离源中，经解吸附、电离后通过高分辨率质谱完成检测。
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