[发明专利]红外光谱的自动基线校正方法

摘要

本发明公开了一种红外光谱的自动基线校正方法，包括如下步骤：A1、制备待检测样本；B1、用光谱仪采集待检测样本的红外光谱，经过光谱预处理得到原始吸光度光谱；C1、原始吸光度光谱中等间隔的光谱强度Ya＝[y1,y2...yN]，对原始吸光度光谱进行平均取最小值更新处理，得出第一次更新后的吸光度光谱的光谱强度Y1a＝[y1,...yi+1]；D1、计算距离差之和，即Sabs(1)a＝∑|(Ya‑Y1a)|；E1、重复步骤C1进行迭代计算n次，将Y1a更新得出Y2a，以此类推得出Y1a，Y2a...Yna,同时进一步的对步骤D1迭代计算得出Sabs(n)a，随后计算直至ΔSabs(n‑1)a/Sabs(n)a小于或等于迭代阈值λ，停止计算得出吸光度光谱的基线为Yna，其中n＞2；F1、将原始吸光度光谱减去基线得出校正后的吸光度光谱。

主权项

一种红外光谱的自动基线校正方法，包括如下步骤：A1、制备待检测样本，如气体池中的混合气体、均匀粉末状的药物等；B1、用光谱仪采集待检测样本的红外光谱，经过光谱预处理得到原始吸光度光谱，预处理为平滑处理、位移校正、归一化等行业内常用处理方法；C1、原始吸光度光谱中等间隔的光谱强度Ya＝[y1,y2...yN]，对原始吸光度光谱进行平均取最小值更新处理，由yi+1＝minimum(yi+1,(yi+yi+2)/2)，得出第一次更新后的吸光度光谱的光谱强度Y1a＝[y1,...yi+1],其中i＝1,2,3...N‑1；D1、计算原始光谱强度与第一次更新后的光谱强度的距离差之和，即Sabs(1)a＝∑|(Ya‑Y1a)|；E1、重复步骤C1进行迭代计算n次，将Y1a更新得出Y2a，以此类推得出Y1a，Y2a...Yna,同时进一步的对步骤D1迭代计算得出Sabs(1)a、Sabs(2)a...Sabs(n)a，随后计算ΔSabs(1)a＝Sabs(2)a‑Sabs(1)a,ΔSabs(2)a＝Sabs(3)a‑Sabs(2)a...ΔSabs(n‑1)a＝Sabs(n)a‑Sabs(n‑1)a，直至ΔSabs(n‑1)a/Sabs(n)a小于或等于迭代阈值λ，停止计算得出吸光度光谱的基线为Yna，其中n＞2；F1、将原始吸光度光谱减去基线得出校正后的吸光度光谱。