[发明专利]一种双影像单目视觉变形监测系统与方法有效

专利信息
申请号: 201710774443.X 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107388980B 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: 邢磊;戴吾蛟 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 代理人: 欧颖;吴婷
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种双影像单目视觉变形监测系统,包括双棱镜、滤波片一、滤波片二、相机与承载有图像标志的标志承载物,双棱镜设置在图像标志与相机之间,相机的镜头朝向图像标志设置,双棱镜包括有入光面、出光面一与出光面二,滤波片一设置在相机镜头与出光面一之间,滤波片二设置在相机镜头与出光面二之间,滤波片一所能通过的光波波长与滤波片二所能通过的光波波长不同。本发明能够实时改正大气折光误差,测量更准确,实用性好。本发明的监测系统不需要额外的测量仪器,也不需要额外的人工操作,成本较低,实施难度较低。本发明所提出的视觉变形监测方法,通过对大气折光误差的改正,进而对位移测量值进行修正,监测精度可以达到毫米级。
搜索关键词: 一种 影像 目视 变形 监测 系统 方法
【主权项】:
1.一种双影像单目视觉变形监测系统,其特征在于,包括双棱镜(1)、滤波片一(2)、滤波片二(3)、相机(4)与承载有图像标志(51)的标志承载物(5),所述双棱镜设置在图像标志与相机之间,相机的镜头(41)朝向图像标志设置,双棱镜包括有入光面(11)、出光面一(12)与出光面二(13),入光面位于图像标志一侧,出光面一与出光面二均位于相机镜头一侧,出光面一与出光面二相邻设置且出光面一与出光面二之间的夹角α大于150度且小于180度,所述滤波片一设置在相机镜头与出光面一之间,所述滤波片二设置在相机镜头与出光面二之间,滤波片一所能通过的光波波长与滤波片二所能通过的光波波长不同;所述双影像单目视觉变形监测系统的监测方法,具体包括以下步骤:1)图像标志发出的光线由双棱镜分光成两路光线,两路光线分别经滤波片一与滤波片二滤成两种不同波长的光波,射入相机中并形成两幅图像,两幅图像分别为图像一与图像二;2)相机每隔若干秒采集一次图像,根据图像一的变化计算在滤波片一所对应的波长条件下,图像标志所发生的位移D1,并根据图像二的变化计算在滤波片二所对应的波长条件下,图像标志所发生的位移D2,所述滤波片一与滤波片二所能通过的光波波长定义为:滤波片一所能通过的波长小于滤波片二所通过的波长;S1定义为在只有滤波片一所对应的波长条件下,图像标志位移D1与拟真实位移值d之间的位移偏差量,S2定义为在只有滤波片二所对应的波长的条件下,图像标志位移D2与拟真实位移值d之间的位移偏差量;S1与S2即表示由大气折光所造成的误差;3)根据D1、D2、S1与S2计算图像标志的拟真实位移值d,具体计算过程包括:根据式1~式3计算拟真实位移值d,d+S1=D1   (式1);d+S2=D2   (式2);其中,ΔD=|D2‑D1|,当ΔD小于或等于0.1像素所对应的位移时,由于波长较长的光波的大气折光误差较小,因此d值等于D2;当ΔD大于0.1像素所对应的位移时,根据式1~式3计算d值,有所述m为在步骤1之前测算得到的经验值,m的测算方式为:通过在图像标志所在的监测区域设置实际位移已知的基准点,对该基准点进行长期观测,分别观测计算基准点在滤波片一与滤波片二所对应的波长条件下的位移测量结果与基准点实际位移间的差值,以滤波片一与基准点实际位移间的差值除以滤波片二与基准点实际位移间的差值得到商值,计算多次测算得到的多个商值的平均值,即为m;4)以拟真实位移值d作为图像标志的最终位移测量值,即变形监测值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学,未经中南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710774443.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top