[发明专利]基于残缺P3近似正向模型测量混浊介质光学参数的方法有效
| 申请号： | 201710755759.4 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN107411716B | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 赵会娟;刘玲玲;万文博;高峰 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61N5/067;G16H50/50 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 李丽萍 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于残缺P3近似正向模型测量混浊介质光学参数的方法，主要包括：建立辐射率的残缺P3近似正向模型，发展基于残缺P3近似正向模型光学参数反构的解析算法，从而得到被测混浊介质的吸收系数和约化散射系数。所发展的残缺P3与传统P3相比表达式更加简洁，与扩散近似相比更加准确描述光在大吸收或小散射组织中的传播。所发展的基于残缺P3解析反构算法，与传统的基于P3近似的拟合算法及基于扩散近似的解析反构算法相比，能够更加准确地反构出大吸收或小散射混浊介质的光学参数。其中的解析反构算法求解速度快有望应用于的光学参数在线监测。本发明所提出的测量方法不需要测量实验系统所用的光源强度，有利于实际应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 残缺 p3 近似 正向 模型 测量 混浊 介质 光学 参数 方法 | ||
【主权项】：
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