[发明专利]一种极微弱多波段红外辐照度测量系统及方法有效
申请号: | 201710736050.X | 申请日: | 2017-08-24 |
公开(公告)号: | CN107576390B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 赵发财;孙权社;王国权;韩忠;王少水;郑翔亮 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 董雪 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种极微弱多波段红外辐照度测量系统,包括光学系统、信号探测模块、数据采集及处理系统和多维调整平台,多维调整平台上设有真空低温舱,光学系统和信号探测模块分别设置在真空低温舱内,光学系统包括红外窗口、离轴抛物面主镜、离轴抛物面次镜和抛物面聚焦镜,对被测光束进行离轴全反光变换,并将变换后的被测光束聚焦到信号探测模块上;信号探测模块,用于检测被测光束;数据采集及处理系统,用于控制所述光学系统和信号探测模块,并接收所述信号探测模块检测到的信号并处理。本发明采用真空低温舱、离轴全反光学系统与单点红外探测器,解决极微弱红外辐照度的准确测量问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 极微 波段 红外 辐照 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710736050.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。