[发明专利]基于漏洞扫描的回归测试方法在审
| 申请号： | 201710651876.6 | 申请日： | 2017-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN107480532A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 吴思宏 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/57 | 分类号： | G06F21/57;G06F21/56 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所51213 | 代理人： | 谭德兵,吴瑞芳 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于漏洞扫描的回归测试方法，包括对平台漏洞进行全面扫描；将扫描出现的漏洞对应的数据信息存入回归测试数据库；在用户修改平台漏洞后，调用回归测试数据库，对平台进行扫描；以及清空上一次回归测试数据库的数据信息，且将本次测试复现的漏洞对应的数据信息写入回归测试数据库；在每次回归测试扫描结束后，判断回归测试数据库存放的漏洞对应的数据信息是否符合标准，如果符合标准则结束扫描；本发明可以有效的提高扫描效率，节省了时间。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 漏洞 扫描 回归 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于漏洞扫描的回归测试方法，其特征在于包括：步骤一、对平台漏洞进行全面扫描；步骤二、将扫描出现的漏洞对应的数据信息存入回归测试数据库；步骤三、在用户修改平台漏洞后，调用回归测试数据库，对平台进行扫描；以及清空上一次回归测试数据库的数据信息，且将本次测试复现的漏洞对应的数据信息写入回归测试数据库；步骤四、在每次回归测试扫描结束后，判断回归测试数据库存放的漏洞对应的数据信息是否符合标准，如果符合标准则结束扫描，反之，则重复步骤三。
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