[发明专利]一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法在审
| 申请号： | 201710623359.8 | 申请日： | 2017-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN107300664A | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 王尧;荆雷;王潇洵;高群;孙强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/44 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法，所述寿命误差试验方法包括以下步骤对LED目标试样进行加速老化试验，得到每个LED目标试样的所有光衰数据；根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命；对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合，得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数；根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数，得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命；根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 灯具 温度 加速 老化 中的 寿命 误差 试验 方法 | ||
【主权项】：
一种LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法，其特征在于：所述寿命误差试验方法包括以下步骤：设定样品数量，并准备对应样品数量的LED目标试样；对LED目标试样进行加速老化试验，得到每个LED目标试样的所有光衰数据；根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命；对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合，得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数；根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数，得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命；根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值。
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