[发明专利]分层测试方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 201710618312.2 | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN107688534A | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 程先燕;董嘉君 | 申请（专利权）人： | 平安科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 王宁 |
| 地址： | 518052 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分层测试方法、装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括获取应用程序的待测子程序，识别待测子程序对应的测试层；调用与所述测试层对应的测试脚本以及与所述待测子程序对应的测试用例；通过所述测试脚本和测试用例对所述待测子程序进行测试；输出测试结果，若所述测试结果表示测试失败，则将失败原因定位至对应的测试层。通过本方法能够有效提高测试失败原因的定位效率。 | ||
| 搜索关键词： | 分层 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种分层测试方法，包括：获取应用程序的待测子程序，识别待测子程序对应的测试层；调用与所述测试层对应的测试脚本以及与所述待测子程序对应的测试用例；通过所述测试脚本和测试用例对所述待测子程序进行测试；输出测试结果，若所述测试结果表示测试失败，则将失败原因定位至对应的测试层。
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