[发明专利]优化起伏地表区目标成像质量的方法及系统有效
| 申请号： | 201710551926.3 | 申请日： | 2017-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN109212607B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 曾昭翰 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
| 主分类号： | G01V1/36 | 分类号： | G01V1/36 |
| 代理公司： | 11218 北京思创毕升专利事务所 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种优化起伏地表区目标成像质量的方法及系统，该方法包括：确定基准面及起伏地表区目标成像深度，并选择深度参数扫描计算范围；计算所述深度参数扫描计算范围内的多个深度条件下的检波点坐标；将计算得到的所述多个深度条件下的检波点坐标代入一条cdp线，进行叠加和叠后偏移；对比多个深度条件下的叠后偏移剖面的成像效果，选择最佳的深度参数；将选择出的深度参数应用到全区地震数据处理中，得到最终的成像剖面。该方法能够解决这种高差剧烈变化导致的成像不准确的问题，能够有效提高山前带等地表起伏较大区域的目标成像精度和信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 目标成像 深度参数 起伏地表 叠后偏移 点坐标 检波 扫描 地震数据处理 成像剖面 成像效果 剧烈变化 大区域 基准面 信噪比 高差 成像 叠加 优化 地表 应用 | ||
【主权项】：
1.一种优化起伏地表区目标成像质量的方法，其特征在于，该方法包括：/n确定基准面及起伏地表区目标成像深度，并选择深度参数扫描计算范围；/n计算所述深度参数扫描计算范围内的多个深度条件下的检波点坐标；/n将计算得到的所述多个深度条件下的检波点坐标代入一条cdp线，进行叠加和叠后偏移；/n对比多个深度条件下的叠后偏移剖面的成像效果，选择最佳的深度参数；/n将选择出的深度参数应用到全区地震数据处理中，得到最终的成像剖面；/n其中，调取全区地震数据中的检波点文件和炮点文件，计算多个深度条件下的检波点坐标；/n其中，通过以下公式计算多个深度条件下的检波点坐标：/n
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