[发明专利]一种BMS的校准及测试方法在审
| 申请号： | 201710516550.2 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN107688161A | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 郑庆芳 | 申请（专利权）人： | 惠州市蓝微新源技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人： | 蒋剑明 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种BMS的校准及测试方法，包括内、外总压校准步骤S11将待测BMS产品处于第一预设内、外总压条件下，读取当前第一预设内、外总压条件下待测BMS产品的AD值VAD1和Real值VReal1；S12将待测BMS产品处于第二预设内、外总压条件下，读取当前第二预设内、外总压条件下待测BMS产品的AD值VAD2和Real值VReal2；S13计算电压增益值Gainv＝|VReal2‑VReal1|*10000/|VAD2‑VAD1|；S14计算电压偏置值Offsetv＝((VReal2*10000‑VAD2*Gainv)+(VReal1*10000‑VAD1*Gainv))/2；S15将电压增益值Gainv和电压偏置值Offsetv写入待测BMS产品的存储器。本次技术方案可以对待测BMS产品进行全范围的校准测试，提高待测BMS产品的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 bms 校准 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种BMS的校准及测试方法，其特征在于，包括内、外总压校准步骤：S11：将待测BMS产品(700)处于第一预设内、外总压条件下，读取当前第一预设内、外总压条件下待测BMS产品(700)的AD值VAD1和Real值VReal1；S12：将待测BMS产品(700)处于第二预设内、外总压条件下，读取当前第二预设内、外总压条件下待测BMS产品(700)的AD值VAD2和Real值VReal2；S13：计算电压增益值：Gainv＝|VReal2‑VReal1|*10000/|VAD2‑VAD1|；S14：计算电压偏置值：Offsetv＝((VReal2*10000‑VAD2*Gainv)+(VReal1*10000‑VAD1*Gainv))/2；S15：将电压增益值Gainv和电压偏置值Offsetv写入待测BMS产品(700)的存储器。
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