[发明专利]一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法有效
| 申请号： | 201710507516.9 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN107197236B | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 文林;李豫东;冯婕;王田珲;于新;周东;郭旗 | 申请（专利权）人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 | 代理人： | 张莉 |
| 地址： | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法，该方法通过对在轨暗场测试采集到的其中任一幅图进行计算，得到该幅图的背景信号SBG和图像饱和信号Smax，然后统计该幅图中信号灰度值介于2SBG和Smax之间的热像素信号个数，对于单个热像素信号计算其最亮像素的灰度值，统计单个热像素的拖尾信号所占的像素个数，并计算单个热像素所占拖尾像素的灰度值之和，再计算单个热像素信号转移到输出端的转移次数，根据公式计算出单个热像素的电荷转移损失率，以此求出基于单个热像素的电荷耦合器件的单次电荷转移效率。最后计算所求出的N个电荷转移效率的均值，即为在轨电荷耦合器件的电荷转移效率。本发明实时性强，方法简单快速，计算结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 像素 电荷耦合器件 电荷 转移 效率 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法，其特征在于按下列步骤进行：a、对电荷耦合器件在轨暗场测试采集到的其中任一幅图进行计算，得到该幅图的背景信号SBG和图像饱和信号Smax；b、统计该幅图中信号灰度值介于2SBG和Smax之间的热像素信号个数N；c、对于单个热像素信号计算其最亮像素的灰度值Shotpixel；d、统计单个热像素拖尾信号所占的像素个数n；e、计算单个热像素所有拖尾像素的灰度值之和SUMtrail；f、计算单个热像素信号转移到输出端的转移次数Ntransfer；g、根据该幅图的背景信号SBG、图像饱和信号Smax、最亮像素的灰度值Shotpixel、拖尾信号所占的像素个数n、拖尾像素的灰度值之和SUMtrail和转移次数Ntransfer计算单个热像素的电荷转移损失率CTIi，然后求出基于单个热像素的电荷耦合器件的单次电荷转移效率CTEi；h、计算所求出的N个单次电荷转移效率的均值CTEaverage，即为在轨电荷耦合器件的电荷转移效率。
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