[发明专利]一种基于FPGA的SD卡测试系统及方法在审
| 申请号： | 201710477868.4 | 申请日： | 2017-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN107331421A | 公开（公告）日： | 2017-11-07 |
| 发明（设计）人： | 张磊;胡亚平 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种基于FPGA的SD卡测试系统，FPGA内部控制电路包括时钟发生与管理模块、PRBS图形发生模块、发送模块、接收模块、命令控制模块、数据处理模块、序列同步模块以及接口控制模块；FPGA通过接口控制模块接收上位机的命令，并将命令或者数据送至数据处理模块；数据处理模块判断命令后进行下一步操作，当正常发送接收测试和命令测试时，PRBS图形发生模块以及序列同步模块不使能，接收数据直接由接收模块发送至数据处理模块；当上位机选择误码测试时，PRBS图形发生模块与序列同步模块启用。本发明的测试系统及方法可以对SD卡进行单条指令测试，灵活性高，而且满足长时间高速测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga sd 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于FPGA的SD卡测试系统，其特征在于，FPGA内部控制电路包括时钟发生与管理模块、PRBS图形发生模块、发送模块、接收模块、命令控制模块、数据处理模块、序列同步模块以及接口控制模块；FPGA通过接口控制模块接收上位机的命令，并将命令或者数据送至数据处理模块；数据处理模块判断命令后进行下一步操作，当正常发送接收测试和命令测试时，PRBS图形发生模块以及序列同步模块不使能，接收数据直接由接收模块发送至数据处理模块；当上位机选择误码测试时，PRBS图形发生模块与序列同步模块启用。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所，未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710477868.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：解码方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
- 下一篇：一种透明导电复合材料
