[发明专利]一种测量折射率的设备及方法在审
| 申请号： | 201710473626.8 | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN109100328A | 公开（公告）日： | 2018-12-28 |
| 发明（设计）人： | 余晓露;蒋宏;马中良;席斌斌;鲍芳 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;王浩 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种用于测量折射率的设备和方法，该设备包括：光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，第一光束和第二光束为相干光束，第二光束穿过岩石薄片中的目标矿物得到第三光束；光束处理装置，用于对第一光束和第三光束叠加并滤波后输出目标光束；样品台，设置于光束入射装置和光束处理装置之间，用于放置岩石薄片；数据处理装置，其与光束处理装置连接，用于检测目标光束并根据目标光束计算目标矿物的折射率。通过该设备和方法，能够快速且准确地测出岩石薄片薄片中目标矿物的折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 岩石薄片 光束处理装置 光束入射装置 测量折射率 目标光束 目标矿物 折射率 数据处理装置 垂直入射 光束穿过 光束叠加 计算目标 输出目标 相干光束 样品台 矿物 滤波 检测 申请 | ||
【主权项】：
1.一种测量折射率的设备，其特征在于，包括：光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，所述第一光束和所述第二光束为相干光束，所述第二光束穿过所述岩石薄片中的目标矿物以得到第三光束；光束处理装置，用于对所述第一光束和所述第三光束叠加并滤波后输出目标光束；样品台，设置于所述光束入射装置和所述光束处理装置之间，用于放置所述岩石薄片；数据处理装置，其与所述光束处理装置连接，用于检测所述目标光束并根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率。
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