[发明专利]一种位移传感器结构及测试方法有效

专利信息
申请号: 201710472532.9 申请日: 2017-06-21
公开(公告)号: CN109099811B 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 张毅;杨水旺;童京华 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种位移传感器结构及测试方法,所述位移传感器的头部形状是高度为等差排列的台阶、或齿条、或阵列物体,在测量过程中,只会剐断头部过高的台阶或齿条,间隙示值等于该断裂台阶或齿条的已知高度,至于该台阶或齿条从哪个位置断裂,与示值无关,解决了现有位移测量中切削位置和断裂位置不一样而引起的测量误差,且不需要反复安装,所以剔除了一部分安装误差,安装使用方便,通过结构设计,结构安装调试方便,调试时伸缩自如,锁死后保证密封,可以保证在高温、高速、辐射、尘埃等恶劣环境下,测量发生高速相对剪切运动部件之间间隙值d,有利于提高测量不确定度,对于发动机叶尖运动间隙及高速铁路运动间隙校准做出了贡献。
搜索关键词: 一种 位移 传感器 结构 测试 方法
【主权项】:
1.一种位移传感器结构,其特征在于,包括:由头部和圆轴构成的位移传感器,所述头部呈等差式结构形状,置于固定部件和运动部件之间,所述圆轴通过安装座固定在固定件上,并穿过一端安装在安装座中的测量嘴,且采用锁紧头套锁紧;锁紧环,与测量嘴另一端配合使用,用于锁紧所述移传感器的圆轴;置于测量嘴和锁紧头套之间的弹簧,用于给传感器圆轴施加远离运动部件的力,使位移传感器能够复位;螺旋测微机构,通过锁紧头套施加给位移传感器推力,并记录位移传感器位置。
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