[发明专利]一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710464293.2 申请日: 2017-06-19
公开(公告)号: CN109144806B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 张明瑞 申请(专利权)人: 合肥君正科技有限公司
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263;G11C29/10
代理公司: 北京智为时代知识产权代理事务所(普通合伙) 11498 代理人: 代峰;王加岭
地址: 230088 安徽省合肥市高新区望江*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例提供了一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置,用以解决了现有技术寄存器传输级电路的功能验证耗时太长的问题。该方法包括:将寄存器传输级电路划分为若干计算单元,以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元;对所述计算单元进行测试;对所述控制单元进行测试;当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时,确定寄存器传输级电路的功能验证通过。
搜索关键词: 一种 寄存器 传输 电路 功能 验证 方法 装置
【主权项】:
1.一种寄存器传输级电路的功能验证方法,其特征在于,包括:将寄存器传输级电路划分为若干计算单元,以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元;对所述计算单元进行测试;对所述控制单元进行测试;当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时,确定寄存器传输级电路的功能验证通过。
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