[发明专利]多通道微流控荧光检测装置和方法有效
申请号: | 201710457080.7 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107255710B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 王凯;陈艺文;何汉滔 | 申请(专利权)人: | 广东顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院;中山大学 |
主分类号: | G01N33/53 | 分类号: | G01N33/53;G01N21/64 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 林青中 |
地址: | 528300 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种多通道微流控荧光检测装置和方法。该荧光检测装置包括光源、微流控芯片及光电薄膜晶体管。光电薄膜晶体管具有多个检测阵列,每个所述检测阵列具有多个由顶栅极、漏极、底栅极和源极构成的双栅极光电薄膜晶体管,且每个检测阵列中的多个双栅极光电薄膜晶体管呈阵列分布。该荧光检测装置和方法采用双栅极光电薄膜晶体管,并将其和多通道微流控芯片集成,形成集成化和微型化的多通道的微流控荧光采集系统进行荧光信号收集和检测,具有较高的光灵敏度和光电导增益,非常适用于荧光检测,而且其制备难度和成本较低、功耗小、集成度高,适用于大面积制作,实现阵列化。 | ||
搜索关键词: | 通道 微流控 荧光 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多通道微流控荧光检测装置,其特征在于,包括光源、微流控芯片及光电薄膜晶体管,所述光源与所述光电薄膜晶体管分别位于所述微流控芯片的两侧;其中,所述微流控芯片具有多个待测微流控通道;所述光源为光源阵列;所述光电薄膜晶体管具有多个检测阵列,每个所述检测阵列对应一个所述待测微流控通道,每个所述检测阵列具有多个由顶栅极、漏极、底栅极和源极构成的双栅极光电薄膜晶体管,且每个检测阵列中的多个所述双栅极光电薄膜晶体管呈阵列分布;整个所述光电薄膜晶体管中的多个所述双栅极光电薄膜晶体管为并联结构,每个所述检测阵列中的多个所述双栅极光电薄膜晶体管的源极短接,多个所述检测阵列中的顶栅极、漏极和底栅极分别短接。
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