[发明专利]纳米材料热性能测试装置在审

专利信息
申请号: 201710447594.4 申请日: 2017-06-14
公开(公告)号: CN107271479A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 贾国治;张延榜 申请(专利权)人: 天津城建大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司12108 代理人: 吕志英
地址: 300384 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种纳米材料热性能测测试装置,该装置包括横向滑轨支架,示波器,纵向滑轨支架,调压旋钮,电子天平,固定底板,溶液样品槽,铜片夹,可旋转样品台,薄膜样品槽,粉体样品槽,非接触式红外测温仪,横向滑轨滑,滑轨支架,固定转轴,光源,直流稳压电源;还有包括高精度测温探头,探头运动轨道,探头固定底板,多通道数据采集模块形成的多点接触式测温装置。有益效果是该装置具有多重的使用功能,可以实现双重的加热方式温度实时检测,可以测试溶液类,薄膜类,粉体类样品。兼顾接触式和非接触式实时测温方式,同时具有非接触式热成像功能,可以从数据和热成像两方面得到样品的温度分布。能够测试由光照导致的水蒸发量,可以用作水淡化效率的评估研究。
搜索关键词: 纳米 材料 性能 测试 装置
【主权项】:
一种纳米材料热性能测试装置,其特征是:该装置包括横向滑轨支架(1),示波器(2),纵向滑轨支架(3),调压旋钮(4),电子天平(5),固定底板(6),溶液样品槽(7),铜片夹(8),可旋转样品台(9),薄膜样品槽(10),粉体样品槽(11),非接触式红外测温仪(13),横向滑轨滑(14),滑轨支架(15),固定转轴(16),光源(17),直流稳压电源(18);还有包括高精度测温探头(19),探头运动轨道(20),探头固定底板(21),多通道数据采集模块(22)形成的多点接触式测温装置;所述纵向滑轨支架(3)固定在底板(6)上,横向滑轨支架(1)和纵向滑轨支架(3)交叉连接,在固定底板(6)一侧设置有示波器(2)和直流稳压电源(18),在固定底板(6)上面设有电子天平(5)和旋转样品台(9),在旋转样品台(9)上面设有薄膜样品槽(10),溶液样品槽(7)和粉体样品槽(11),在薄膜样品槽(10)两侧边固定有铜片夹(8),横向滑轨支架(14)和滑轨支架(15)通过滑轨连接,接触式红外测温仪(13)固定在横向滑轨支架(14)顶端连接,横向滑轨支架(1)通过滑轨与滑轨支架(3)连接,横向滑轨支架(1)另一侧固定有转轴(16),转轴(16)连接光源(17);所述多点接触式测温装置的高精度测温探头(19)装在滑动轨道(20)上,高精度测温探头(19)的导线与多通道数据采集模块(22)连接,多通道数据采集模块(22)另一端与电脑连接,高精度测温探头(19)、探头运动轨道(20)以及探头固定底板(21)放置在样品旋转台一侧。
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