[发明专利]高超声速溢流液膜冷却膜厚测量装置及测量方法

摘要

本发明提供的高超声速溢流液膜厚度测量装置，包括激励源，激励信号扩展单元，测量回路，空载回路，差分放大单元，调零单元，数据采集单元和数据处理单元。本发明能够实现不同厚度的液膜测量，通过激励源可产生指定标准的激励信号，通过空载回路和差分放大单元可以消除测量过程中产生的干扰信号，减少误差以得到精确的电导值，数据处理单元通过对数据采集单元采集信号的峰值进行计算，可得到当前液膜的精确厚度值。

主权项

高超声速溢流液膜厚度测量装置，其特征在于，包括：激励源，包括产生测量探头所需激励信号的信号发生单元，和控制激励信号频率的频率选择单元，以及控制激励信号类型的波形选择单元；激励信号扩展单元，接受所述激励源的激励信号，并产生频率、相位、幅值完全相同的激励信号进行输出；测量回路，接收所述激励信号扩展单元输出的激励信号，再将测量结果输出，包括与测量探头相联的自平衡电桥；空载回路，利用自平衡电桥接收所述激励信号扩展单元输出的激励信号,其输出信号为测量过程中的电磁干扰信号；差分放大单元，包括同相比例放大器和差分比例放大器，接收所述测量回路和空载回路的信号并经过放大和差分处理后扣除电磁干扰信号；调零单元，用于控制差分放大单元的放大倍数，以消除电子元器件参数差异带来的影响；数据采集单元，采集所述差分放大单元中符合指定要求的输出信号；数据处理单元：用于接收所述数据采集单元的输出信号并检测输出信号的峰谷值，根据峰谷值得到液膜厚度。