[发明专利]一种基于全波段特征增强的光谱匹配方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于全波段特征增强的光谱匹配方法及系统，利用高光谱技术得到样品的反射光谱，计算在一段光谱范围的反射率方差，并将其定义为波动强度，进而建立波动光谱，计算波动光谱的相似距离实现光谱匹配。该方法在波长维分析光谱波动，建立反射光谱到波动光谱的变换，提取光谱诊断特征进行并放大，抑制光谱冗余信息，进一步扩大光谱可分性，有效提高光谱匹配算法性能。本发明是一种基于光谱波动的高光谱特征增强技术，进一步提高高光谱成像技术对地物，特别是具有吸收反射特性的矿物识别能力。

主权项

1.一种基于全波段特征增强的光谱匹配方法，其特征在于，包括：S1、采集k类参考样本的反射率，得到k类参考样本的反射光谱为{RS₁,RS₂,RS₃,...,RS_k}；S2、对于任意参考样本j,1≤j≤k，记第j类参考样本反射光谱RS_j的波长为{λ_j1,λ_j2,λ_j3,...,λ_jn}，由h₁＝min(h|λ_ji‑h＞λ_ji‑δ)得到波段i向短波方向的波动波长，由h₂＝max(h|λ_ji+h＜λ_ji+δ)得到波段i向长波方向的波动波长，其中，λ_ji表示参考样本j在波段i处的波长，(λ_ji‑δ,λ_ji+δ)表示波段i的波动区间，δ为预设值，1≤i≤n，n为整个光谱范围内谱带的总数目；S3、对于第j类参考样本的反射光谱RS_j＝(r_j1,r_j2,r_j3,...,r_jn)，计算第j类参考样本在波段i的波动强度其中，r_ji表示第j类参考样本在波段i处的反射率，表示波段i在波动区间(λ_ji‑δ,λ_ji+δ)上的反射率均值；S4、由FS_ji＝SFI_ji得到第j类参考样本在波段i的强度值，进而构建第j类参考样本在全波段的波动光谱；S5、重复步骤S2～步骤S4得到k类参考样本的波动光谱，根据k类参考样本中各参考样本与待测样本的光谱角度确定待测样本的种类，光谱角度越小，两类样本相似度越高。