[发明专利]离子迁移率分析器及分析方法有效
申请号: | 201710419157.1 | 申请日: | 2017-06-06 |
公开(公告)号: | CN109003876B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 肯特·詹姆斯·吉尔里格;王珂珂;孙文剑;张小强 | 申请(专利权)人: | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 |
主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06;G01N27/62 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 高彦 |
地址: | 201201 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出一种离子迁移率分析器及分析方法,该分析器包括:离子源、设有离子入口的第一迁移/分析区域、设有离子出口的第二迁移/分析区域、连接第一迁移/分析区域和第二迁移/分析区域的第三连接区域、及连接离子出口的检测器,其中,第一迁移/分析区域和第二迁移/分析区域中直流电场和气流对离子的作用方向相反,并且第二气流与第一气流的气流方向一致;第三连接区域包含第三直流电场,第三直流电场使离子从第一迁移/分析区域传输到第二迁移/分析区域,由于第一和第二两个区域的气流方向相同,无论是作为高分辨率的离子迁移率分析器还是作为连续离子束离子迁移率过滤器,本发明在分辨率和灵敏度上都具有很好的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 离子迁移率 分析器 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种离子迁移率分析器,其特征在于,包括:离子源;第一迁移/分析区域,设有连接所述离子源的离子入口;所述第一迁移/分析区域包含第一直流电场及第一气流,其中,所述第一直流电场及第一气流令离子沿第一迁移/分析区域的轴线运动,其中,第一直流电场及第一气流对离子的作用方向相反;第二迁移/分析区域,设有离子出口;所述第二迁移/分析区域包含第二直流电场及第二气流,其中,所述第二直流电场及第二气流令离子沿第二迁移/分析区域的轴线运动,其中,第二直流电场及第二气流对离子的作用方向相反;并且所述第二气流与所述第一气流的气流方向一致;第三连接区域,位于所述第一迁移/分析区域和第二迁移/分析区域之间,其中,所述第三连接区域包含第三直流电场,所述第三直流电场使离子从所述第一迁移/分析区域传输到所述第二迁移/分析区域;检测器,连接所述离子出口。
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