[发明专利]确定材料空间分布的方法和设备以及计算机断层摄影系统

摘要

描述了一种用于确定检查对象(O)的检查区域中的材料属性值的空间分布(ρe；Z)的方法。通过该方法，获取投影扫描数据(PM)，其已经使用限定的扫描投影几何形状、借助于具有限定的X射线能谱的单能CT扫描从检查对象(O)的检查区域中产生。此外，建立了目标函数(ZF)，其包括所寻求的空间分布(ρe；Z)的光谱正向投影(PS)和所获取的投影数据(PM)。最后，确定材料属性值的空间分布(ρe；Z)，目标函数(ZF)对于该空间分布假设为极值。还描述了一种材料属性分布确定设备(30)。而且，描述了一种计算机断层摄影系统(1)。

主权项

一种用于确定检查对象(O)的检查区域中的材料属性值的空间分布(ρe；Z)的方法，具有以下步骤：‑获取投影扫描数据(PM)，所述投影扫描数据(PM)已经使用限定的扫描投影几何形状、借助于具有限定的X射线能谱的单能CT扫描从所述检查对象(O)的所述检查区域产生，‑建立目标函数(ZF)，所述目标函数(ZF)包括所寻求的所述空间分布(ρe；Z)的光谱正向投影(PS)和所获取的所述投影扫描数据(PM)，‑通过以所述目标函数假设为极值(min(ZF))这样的方式优化所述目标函数(ZF)，来确定材料属性值的空间分布(ρe；Z)。