[发明专利]一种透射式薄层物质折射率测量装置在审
申请号: | 201710395825.1 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN106970045A | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 夏珉;葛颖慧;杨克成;李微;郭文平 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 王世芳,李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种薄层物质折射率测量装置,属于光学仪器领域,其包括透射测量模块,该透射测量模块包括第一棱镜、第二棱镜以及用于测量时容置待测对象的间隙,所述间隙为第一棱镜的测量面和第二棱镜的测量面相聚间隔而形成,所述间隙的高度为100nm~2mm。第一棱镜和第二棱镜为结构相同、折射率相同的等腰棱镜。或者所述第一棱镜和所述第二棱镜为结构不相同、折射率不相同的等腰棱镜。本发明装置中,透明介质通过两块棱镜构成测量光学系统,不仅实现薄层物质的折射率测量,而且经过玻璃‑待测物质和待测物质‑玻璃两次折射具有显著提升信号特征的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 透射 薄层 物质 折射率 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种薄层物质折射率测量装置,其特征在于,其包括透射测量模块,该透射测量模块包括第一棱镜(3)、第二棱镜(5)以及测量时用于容置待测对象的间隙,所述间隙为第一棱镜(3)的测量面和第二棱镜(5)的测量面相距间隔而形成,所述间隙的高度为100nm~2mm。
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