[发明专利]一种电路板自动测试系统的校准方法及系统

摘要

本发明公开了一种电路板自动测试系统的校准方法及系统，方法包括：S1.确定光学校准点的第一坐标，所述第一坐标为光学校准点在图案坐标系中的坐标；S2.控制测试探头移动至所述光学校准点，获取电路板的光学图像；S3.对所述光学图像进行图像分析，确定光学校准点的第二坐标，所述第二坐标为所述光学校准点在测试探头坐标系中的坐标；S4.根据所述第一坐标和第二坐标计算确定所述图案坐标系与测试探头坐标系之间的映射关系，完成测试系统的自动校准。本发明具有自动、高效、定位精度高等优点。

主权项

1.一种电路板自动测试系统的校准方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.确定光学校准点的第一坐标，所述第一坐标为光学校准点在图案坐标系中的坐标；S2.控制测试探头移动至所述光学校准点，获取电路板的光学图像；S3.对所述光学图像进行图像分析，确定光学校准点的第二坐标，所述第二坐标为所述光学校准点在测试探头坐标系中的坐标；S4.根据所述第一坐标和第二坐标计算确定所述图案坐标系与测试探头坐标系之间的映射关系，完成测试系统的自动校准；所述步骤S3的具体步骤包括：S3.1.对所述光学图像进行滤波；S3.2.提取所述光学图像的边缘，得到二值化的边缘图像；S3.3.对所述二值化的边缘图像进行Hough圆检测，得到待选圆，并确定待选圆的直径和中心坐标；S3.4.从所述待选圆中确定符合预设标准的目标圆，以所述目标圆的圆心坐标为光学校准点在测试探头坐标系中的坐标。