[发明专利]一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法有效
| 申请号： | 201710335811.0 | 申请日： | 2017-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN107133476B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 俞洋;姜月明;王鹤潼;李志盛 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人： | 杨立超 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙;23 |
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| 摘要： | 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 响应 混叠性 度量 测试 激励 协同 优化 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，其特征在于：所述基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法包括以下步骤：/n步骤一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作的特征信息以及M次由故障元件H引起的故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；/n步骤二：根据特征信息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，正常样本的正态分布曲线的均值μ
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