[发明专利]基于响应曲面法的UV/H2O2工艺参数优化方法有效
申请号: | 201710321378.5 | 申请日: | 2017-05-09 |
公开(公告)号: | CN106986413B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 贾瑞宝;宋武昌;孙韶华;冯桂学 | 申请(专利权)人: | 山东省城市供排水水质监测中心 |
主分类号: | C02F1/32 | 分类号: | C02F1/32;C02F1/72;G06F17/50 |
代理公司: | 37105 济南诚智商标专利事务所有限公司 | 代理人: | 黎明<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 250021 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于响应曲面法的UV/H2O2工艺参数优化方法,包括:(1)设计目标有机物去除的RSM混标实验;(2)目标有机物去除的RSM混标实验;(3)UV/H2O2高级氧化中试装置,设有多个药剂投加点,分别用于投加H2O2及配水试验的目标有机物加标;(4)目标有机物去除模型,应用Design‑Expert软件对实验数据进行多元回归拟合,建立回归方程;(5)回归方程采用响应曲面二次模型的ANOVA进行方差和相关性分析;(6)工艺参数确定。本发明简化了实际工程应用过程频繁调整工艺参数,模型建立后可与UV/H2O2高级氧化反应器自控系统的联动,实现工艺参数的自动调节,有效降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 基于 响应 曲面 uv h2o2 工艺 参数 优化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于响应曲面法的UV/H2O2工艺参数优化方法,其特征在于:包括如下步骤:/n(1)设计目标有机物去除的RSM混标实验:采用配套UV/H2O2高级氧化中试装置开展实验;逐一建立目标有机物去除模型并检验其显著性、有效性,分析各自最佳工艺参数;优化设计去除多种目标有机物的最佳工况,并进行模型验证,确定经济有效的工艺参数;/n(2)所述目标有机物去除的RSM混标实验:对H2O2投加量、UV剂量以及目标有机物初始浓度因素及其水平进行设计;利用Design Expert软件,采用Box-Behnken设计方案,设计RSM混标实验,并采用配套UV/H2O2高级氧化中试装置开展实验;/n(3)所述UV/H2O2高级氧化中试装置,设有多个药剂投加点,分别用于投加H2O2及配水试验的目标有机物加标,以实际工程待处理水为原水;/n(4)所述目标有机物去除模型,以目标有机物去除率为响应值Y1,Y2……Yn,以H2O2投加量A、UV剂量B以及目标有机物初始浓度C1,C2……Cn为自变量,应用Design-Expert软件对实验数据进行多元回归拟合,建立回归方程:/nY1=k1,1+k1,2A+k1,3B+k1,4C1+k1,5AB+k1,6AC1+k1,7BC1+k1,8A2+k1,9B2+k1,10C12 (式1)/nYn=kn,1+kn,2A+kn,3B+kn,4Cn+kn,5AB+kn,6ACn+kn,7BCn+kn,8A2+kn,9B2+kn,10Cn2 (式2)/n其中,k1,1……k1,10,kn,1……kn,10均为常数;/n(5)所述回归方程应采用响应曲面二次模型的ANOVA进行方差和相关性分析,分析回归模型的拟合系数和修正拟合系数;若模型有效则可用于工艺参数优化,模型无效则重复实验;/n(6)所述工艺参数确定方法:采用Design Expert软件,增加UV灯耗电成本m1和H2O2药剂成本m2为修正因子,以最难去除有机物的去除率Yx为目标值,其他目标有机物去除率设定为模型区间内,通过Optimization优化设计去除多种目标有机物的工艺参数;对应的H2O2投加量A和UV剂量B总成本最小值即为最佳参数,f(A,B)=min(m1A+m2B);并考察满意度值衡量其与预期目标值的关系,按照模型求出的最佳工艺参数进行实验和模型验证。/n
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