[发明专利]测试用例生成方法及装置、存储介质、电子设备有效
| 申请号： | 201710312624.0 | 申请日： | 2017-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN108804304B | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | 王秀萍 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100195 北京市海淀区杏石口路65号西杉*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种测试用例生成方法及装置、存储介质、电子设备，该方法包括：接收包括与测试覆盖率对应的覆盖率标签的待测代码；对所述待测代码中的每行代码进行扫描以得到多个字符串，并分别分析每个所述字符串的约束条件；将全部所述字符串的所述约束条件以树形结构进行存储以得到所述待测代码的树形数据结构；基于所述覆盖率标签对所述树形数据结构进行遍历以得到与所述覆盖率标签对应的测试路径；根据所述测试路径以及与所述测试路径对应的所述字符串的约束条件生成测试用例。本公开实现了测试用例的自动化生成，降低了对测试工作人员的要求以及白盒测试的开发成本，提高了测试用例生成的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 生成 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种测试用例生成方法，其特征在于，包括：接收包括与测试覆盖率对应的覆盖率标签的待测代码；对所述待测代码中的每行代码进行扫描以得到多个字符串，并分别分析每个所述字符串的约束条件；将全部所述字符串的所述约束条件以树形结构进行存储以得到所述待测代码的树形数据结构；基于所述覆盖率标签对所述树形数据结构进行遍历以得到与所述覆盖率标签对应的测试路径；根据所述测试路径以及与所述测试路径对应的所述字符串的约束条件生成测试用例。
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