[发明专利]一种基于体光栅反射技术与3D内雕技术的非接触式测温系统在审

专利信息
申请号: 201710310771.4 申请日: 2017-05-03
公开(公告)号: CN108801498A 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 李裔;胡适 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基于反射型体光栅技术与3D内雕技术的非接触式测温系统,包括光源、测试基片和接收显示系统,光源包括宽谱LED灯;首先宽谱LED灯产生的入射光束以固定的角度照射在测试基片上,贴附在待测物体的测试基片收到温度的影响,会导致测试基片上的光栅发生形变,导致衍射光信息发生变化,接收到衍射光信号的光电传感器将光信号传输给解调主机,最后经过解调主机的解调计算出相应的温度,并在显示屏示出来。本发明采用3D内雕制成的体光栅玻璃片作为测试基片,稳定性高,成本低;作为一种非接触式测温系统,安全性高,可以非常好的应用在电力及相关的温度测量中。
搜索关键词: 测试基片 非接触式测温 体光栅 解调 宽谱 光源 主机 接收显示系统 光电传感器 光信号传输 衍射光信号 光栅 待测物体 入射光束 温度测量 玻璃片 反射型 固定的 衍射光 形变 贴附 反射 显示屏 照射 应用
【主权项】:
1.一种基于体光栅反射技术与3D内雕技术的非接触式测温系统,包括宽谱LED灯(1),被测物体(2),测试基片(3),光电传感器(6),解调主机(8),显示屏(10),其特征在于:所述的由宽谱LED灯(1)产生的入射光束(4)以固定的角度照射在测试基片(3)上;所述的测试基片(3)贴附在待测物体(2),对光源产生的入射光束(4)形成衍射,得到衍射光束(5);所述的解调主机(8)与光电传感器(6)以及显示屏(10)用导线(7)连接。
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