[发明专利]一种强制老化的方法在审
| 申请号： | 201710281012.X | 申请日： | 2017-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN107144799A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 曾敬鸿;任敏 | 申请（专利权）人： | 贵州省广播电视信息网络股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/44 | 分类号： | G01R31/44;G01R31/40;G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 贵州启辰知识产权代理有限公司52108 | 代理人： | 赵彦栋,蒋琳琳 |
| 地址： | 550018 贵州*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开一种强制老化的方法，它包括设备灯，设备灯与测试系统相连接，所述的测试系统包括老化模式与用户模式，该方法是设备灯第一次开机时强制进入老化模式,只能老化完成才能退出，否则无法正常进入用户模式，则设备灯无法使用，所述的老化模式包括电源老化模块、设备灯强制老化模块和芯片强制老化模块；本发明能保证我们产品的可靠性以及稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 强制 老化 方法 | ||
【主权项】：
一种强制老化的方法，它包括设备灯，设备灯与测试系统相连接，其特征在于：所述的测试系统包括老化模式与用户模式，该方法是设备灯第一次开机时强制进入老化模式,只能老化完成才能退出，否则无法正常进入用户模式，则设备灯无法使用，所述的老化模式包括电源老化模块、设备灯强制老化模块和芯片强制老化模块；电源老化模块是让电源长时间在恶劣环境下处于工作状态，包括在高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机，看其是否损坏；设备灯强制老化模块是根据灯开关时闪现的特性来进行老化，通过对一个以上的设备灯同时进行每一秒闪一次的老化测试，在老化测试中若出现差错则设备灯熄灭，若通过老化设置，设备灯长亮；芯片强制老化模块针对芯片的特性，让其不断处于忙碌的状态，看其能否正常进行工作。
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