[发明专利]一种场多导体传输线耦合的辐射敏感度测试方法有效
申请号: | 201710244505.6 | 申请日: | 2017-04-14 |
公开(公告)号: | CN107121598B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 王世山;高欣欣;娄千层;陈楠 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 熊玉玮 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种场多导体传输线耦合的辐射敏感度测试方法,属于电磁干扰测试的技术领域。该方法:在平行于待测试传输线的位置上架设一根与传输线弱耦合的干扰线,干扰线的两端分别接有信号源以及匹配阻抗,建立场多导体传输线耦合模型和与之等效的双端口激励下的多导体传输线模型,初始化干扰线两端接有的信号源后检测待测试传输线的端口电压。本发明将传输线辐射敏感度预测实验转化为双端口激励下的多导体传输线实验,在保持较高测试精度的同时降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 导体 传输线 耦合 辐射 敏感度 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种场多导体传输线耦合的辐射敏感度测试方法,其特征在于,在平行于待测试传输线的位置上架设一根与传输线为弱耦合的干扰线;干扰线的两端都各自接有信号源以及匹配阻抗;建立场多导体传输线耦合模型和与之等效的双端口激励下的多导体传输线模型:首先,采用具有集总源的2n端口网络表示入射场激励待测试传输线的多导体传输线耦合模型,建立Taylor模型并确定待测试传输线端口的集总电压和集总电流,待测试传输线端口的集总电压和集总电流为:
其中,l为待测试传输线的长度,
分别为待测试传输线近端端口电压和近端端口电流,
分别为待测试传输线远端端口电压和远端端口电流,
分别为待测试传输线远端端口的集总电压源和集总电流源,ΦTL(l)为待测试传输线的链参数矩阵,接着,采用2(n+1)端口网络表示考虑干扰线耦合响应的多导体传输线模型,建立针对以受到干扰的待测试传输线为观测对象的具有集总源的2n端口网络以构建双端口激励下的多导体传输线模型,确定待测试传输线端口受干扰后的集总电压和集总电流,待测试传输线端口受干扰后的集总电压和集总电流为:
其中,ΦXL(l)为干扰线对待测试传输线的二次效应,
分别为待测试传输线对干扰线的一次响应电压和一次响应电流,最后,在消除干扰线对待测传输线影响的条件下优化构建的双端口激励下的多导体传输线模型以使之与场多导体传输线耦合模型等效;初始化干扰线两端接有的信号源后检测待测试传输线的端口电压。
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