[发明专利]基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法

摘要

基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，属于集成电路设计领域。当采样时间失配表征量|B_i|≥B_s时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)，当|B_i|<B_s时，采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)，然后将调节后T_cali(n+1)反馈到时间交织ADC中的时钟单元，调整对应的第i个时间交织ADC通道的时钟相位，使采样时间的失配不断减小，完成该校正周期中采样时间失配的校正，其中B_s为无采样时间失配时|B_i|的最大范围，称为采样时间失配阈值。本发明采用二分查找法极大的缩短了校正周期；采用固定校正步长的校正算法保证了校正精度。

主权项

1.基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，其特征在于，包括以下步骤：/na：时间交织ADC采样输入信号，并将其量化为数字信号；/nb：定义第i个时间交织ADC通道的第n个校正周期的采样时间失配校正系数为T_cali(n)，T_cali(1)＝0，每个校正周期中处理步骤a得到的数字信号获得时间交织ADC各通道采样时间失配表征量B_i，(i＝1，2，…，M)，其中M为时间交织ADC的通道总数；/nc：在每个校正周期中，当|B_i|≥B_s时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)，当|B_i|<B_s时，采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)，然后将调节后的下一个校正周期的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)反馈到时间交织ADC中的时钟单元，调整对应的第i个时间交织ADC通道的时钟相位，使采样时间的失配不断减小，完成该校正周期中采样时间失配的校正，其中B_s为无采样时间失配时|B_i|的最大范围，称为采样时间失配阈值；/n所述采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)的具体步骤为：/nc1.1：B_i>B_S时，令其中u_t(n)为本次校正周期的校正步长；u_t(1)＝t_max，t_max表示时钟单元能够调节的最大时间延迟；/nc1.2：B_i<-B_S时，令/nc1.3：对于步骤c1.1和c1.2，当校正步长u_t(n)达到最小精度步长u_tmin时，保持最小精度步长u_tmin的值不再改变，最小精度步长u_tmin＝t_min，t_min表示时钟单元能够调节的最小时间延迟，所述最小精度步长u_tmin即为固定校正步长；/n所述采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数T_cali(n+1)的具体步骤为：/nc2.1:0<B_i<B_S时，令T_cali(n+1)＝T_cali(n)-u_tmin；/nc2.2：-B_S<B_i<0时，令T_cali(n+1)＝T_cali(n)+u_tmin。/n