[发明专利]超导导体临界电流及分流温度测试装置在审

专利信息
申请号: 201710199808.0 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN107064832A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 刘华军;施毅;武玉 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司34112 代理人: 余成俊
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种超导导体临界电流及分流温度测试装置,包括有背场磁体、可变温样品杜瓦、超导变压器、低温系统、失超探测及失超保护系统,低温系统包括有低温制冷机、氦储液槽、超导变压器杜瓦、背场磁体杜瓦、低温传输管线。本发明适用于高背场下超导导体临界电流及分流温度测试,最大测试背场为10T,最大测试电流达50kA;本发明具有测试精度高、测试成本低、样品更换方便、测试周期短等优点。
搜索关键词: 超导 导体 临界 电流 分流 温度 测试 装置
【主权项】:
超导导体临界电流及分流温度测试装置,其特征在于:包括有背场磁体、可变温样品杜瓦、超导变压器、低温系统,所述低温系统包括有低温制冷机、氦储液槽、超导变压器杜瓦、背场磁体杜瓦、低温传输管线,超导变压器外部设有超导变压器杜瓦,位于超导变压器杜瓦下方背场磁体杜瓦,背场磁体置于背场磁体杜瓦的底部,可变温样品杜瓦下端插入背场磁体中心,待测超导导体样品置于可变温样品杜瓦中,背场磁体为待测超导导体样品提供不同的背场环境,可变温样品杜瓦上端的样品杜瓦法兰与超导变压器杜瓦下端的超导变压器法兰密封连接;超导变压器初级线圈通过高温超导电流引线与外部电源连接,超导变压器次级线圈向下伸出两引脚从变压器杜瓦直接插入可变温样品杜瓦中并分别通过一个单室搭接接头连接在待测超导导体样品的两端,为待测超导导体样品提供电流;氦储液槽设置在超导变压器的上方,用于冷却高温超导电流引线及为超导变压器提供充足液氦;低温制冷机输出的超临界氦通过低温传输管线接至超导变压器杜瓦、可变温样品杜瓦中,用于对超导变压器次级线圈、待测超导导体样品及单室搭接接头进行迫流冷却;低温制冷机输出的液氦通过低温传输管线接至超导变压器杜瓦、背场磁体杜瓦中,用于对超导变压器初级线圈、背场磁体进行浸泡冷却;氦储液槽、超导变压器杜瓦、背场磁体杜瓦、可变温样品杜瓦中的气氦再分别通过低温传输管线返回至低温制冷机中。
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