[发明专利]一种工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平的评价方法在审
| 申请号： | 201710193913.3 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN107101919A | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 张美辨;高向景;唐仕川;邹华 | 申请（专利权）人： | 浙江省疾病预防控制中心 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310051 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平的评价方法，包括以下步骤(1)识别颗粒产生源；(2)测量背景颗粒的数量浓度；(3)在作业区选取测量点，获得各测量点颗粒的数量浓度；(4)计算得到各测量点颗粒的数量浓度和背景颗粒的数量浓度的比值，据此评价工作场所超细颗粒、细颗粒的暴露水平。本发明利用工作场所内测试点的颗粒数量浓度与背景颗粒的数量浓度的比值表征工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平，相对于质量浓度更符合实际暴露情况，扣除了背景颗粒的影响，结果也更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工作 场所 颗粒 暴露 水平 评价 方法 | ||
【主权项】：
一种工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)识别颗粒产生源；(2)测量背景颗粒的数量浓度；(3)在作业区选取测量点，获得各测量点颗粒的数量浓度；(4)计算得到各测量点颗粒的数量浓度和背景颗粒的数量浓度的比值，据此评价工作场所超细颗粒、细颗粒的暴露水平。
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