[发明专利]测试擦写一体机在审
申请号: | 201710175702.7 | 申请日: | 2017-03-22 |
公开(公告)号: | CN107179493A | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 刘波;虞君新 | 申请(专利权)人: | 无锡圆方半导体测试有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司11279 | 代理人: | 田昕 |
地址: | 214000 江苏省无锡市锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试擦写一体机。包括上料单元、测试单元、擦写单元和控制器;所述上料单元设置有第一机械手和第二机械手;所述测试单元设置有载片台;所述第一机械手用于取出晶圆,并将取出的晶圆放置在载片台上进行测试;所述第二机械手用于将载片台上的晶圆取出,并将取出的晶圆放置在擦写单元内进行擦写;所述控制器与上料单元、测试单元和擦写单元电连接;所述控制器用于接收测试单元、擦写单元信号后对第一机械手、第二机械手发出指令。本测试擦写一体机有效地将传统测试装置和擦写装置相结合,使测试过程更加简便,实现全流程自动化操作,降低人工操作风险,提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 测试 擦写 一体机 | ||
【主权项】:
测试擦写一体机,其特征在于:包括上料单元、测试单元、擦写单元和控制器;所述上料单元设置有第一机械手和第二机械手;所述测试单元设置有载片台;所述第一机械手用于取出晶圆,并将取出的晶圆放置在载片台上进行测试;所述第二机械手用于将载片台上的晶圆取出,并将取出的晶圆放置在擦写单元内进行擦写;所述控制器与上料单元、测试单元和擦写单元电连接;所述控制器用于接收测试单元、擦写单元信号后对第一机械手、第二机械手发出指令。
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