[发明专利]用于大面积激光直写系统的多次迭代调平方法有效

专利信息
申请号: 201710175690.8 申请日: 2017-03-22
公开(公告)号: CN107045266B 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 王闯;张浩然;刘前 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王文君
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于大面积激光直写系统的多次迭代调平方法,包括步骤:S1:获取待激光直写区域的三维数据,根据获取的三维数据进行平面拟合;S2:将S1拟合的平面与理想平面比较,通过容错拟合算法进行计算,指导执行器调平;S3:根据调平结果再次进行平面拟合,如果没达到设计精度要求则重复迭代,直至达到精度要求;S4:使执行器执行到最后一次迭代过程计算出的目标位置,进行激光直写。本发明提出的用于大面积激光直写系统的调平方法,可使得系统在金属薄膜、无机相变材料、光刻胶或复合薄膜等多种材料上的调平精度均达到100nm以内,有效保证了激光直写系统刻写激光的精确聚焦,从而大幅度提高样品大面积刻写的刻写质量和成品率。
搜索关键词: 用于 大面积 激光 系统 多次 迭代调 平方
【主权项】:
1.一种用于大面积激光直写系统的多次迭代调平方法,其特征在于,包括步骤:S1:获取待激光直写区域的三维数据,根据获取的三维数据进行平面拟合;数据采集点呈方阵排列,根据获取的三维数据进行平面拟合的公式为z=a0x+a1y+a2  (2)式中n为数据采集点的数量,n为4~400,x、y为数据采集点在笛卡尔坐标系下的二维坐标,z为传感器采集到的相应点的高度值;或,数据采集点呈环形排列,根据获取的三维数据进行平面拟合的公式为z=a0r+a1θ+a2  (4)式中n为数据采集点的数量,n为4~400,r、θ为数据采集点在极坐标系下的二维坐标,z为传感器采集到的相应点的高度值;S2:将S1拟合的平面与理想平面比较,通过容错拟合算法进行计算,指导执行器调平;S3:根据调平结果再次进行平面拟合,与理想平面比较,如果没达到设计精度则重复上述步骤S1、步骤S2和根据调平结果再次进行平面拟合、与理想平面比较的过程,直至达到精度要求;S4:使执行器执行到最后一次迭代过程计算出的目标位置,开始进行激光直写。
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