[发明专利]一种电路板全过程测试覆盖率分析方法在审
| 申请号： | 201710174457.8 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN108627755A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 高峰;陈志漫;耶小方;谢明明;武松剑;张宏伟 | 申请（专利权）人： | 株洲中车时代电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 任重;冯振宁 |
| 地址： | 412000*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板全过程测试覆盖率分析方法，包括以下步骤：将目标电路板的所有元器件的属性和加工属性进行归类，得到电路板全过程的评价属性；使用不同的测试方法对每种属性进行检测，得到不同测试方法对每种属性的检出度，进而得出全过程测试对每种属性的检出度以得到全过程测试覆盖率。本发明将传统的单一方式的测试覆盖率统计分析过程变为了生产过程中所有的检测过程，并基于不同检测方式的测试覆盖率评估方法转换为同一维度的评价方法，能够综合利用多种测试方法的测试结果，使得测试覆盖率的准确率大大提高，有效减少了重复计算以及漏算的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 全过程测试 电路板 测试覆盖率 覆盖率分析 测试 检出 检测 目标电路板 单一方式 方法转换 生产过程 有效减少 重复计算 统计分析 传统的 准确率 归类 维度 元器件 覆盖率 评估 加工 | ||
【主权项】：
1.一种电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，包括以下步骤：将目标电路板的所有元器件的属性和加工属性进行归类，得到电路板全过程的评价属性；使用不同的测试方法对每种评价属性进行检测，得到不同测试方法对每种评价属性的检出度，进而得出全过程测试对每种评价属性的检出度以得到全过程测试覆盖率。
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