[发明专利]基于长周期光纤光栅和细芯光纤的温度与应变测试方法在审
| 申请号： | 201710133314.2 | 申请日： | 2017-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN106767488A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 祝连庆;张开宇;闫光;何巍;董明利;娄小平;辛璟焘 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01K11/32 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11416 | 代理人： | 顾珊,庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于长周期光纤光栅和细芯光纤的温度与应变测试方法，包括以下步骤在细芯光纤上采用飞秒激光直写的方法刻写长周期光纤光栅(LPFG)；利用刻有LPFG的细芯光纤与普通单模光纤(SMF‑28E)熔接构成的马赫曾德结构对LPFG进行调制；得到温度和应变的变化量与谐振峰强度与波长的变化矩阵；通过光谱仪检测细芯光纤马赫曾德透射谱谐振峰的波长变化值△λ和强度变化值△P，代入变化矩阵中，得出环境温度和应变的改变情况。本发明利用马赫曾德透射光谱被长周期光纤光栅调制的特性，通过监测其线性测量区某个透射谐振峰的波长与强度变化，可以实现温度与应变两个参数的区分测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 周期 光纤 光栅 温度 应变 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于长周期光纤光栅和细芯光纤的温度与应变测试方法，该方法包括以下步骤：步骤一：在细芯光纤上采用飞秒激光直写的方法刻写长周期光纤光栅LPFG；步骤二：利用刻有LPFG的细芯光纤与普通单模光纤熔接构成的马赫曾德结构对LPFG进行调制；步骤三：得到马赫曾德谐振峰波长的变化与外界温度的变化成近似的线性关系，马赫曾德谐振峰强度的变化与外界温度的变化△T和应变△ε成近似的线性关系，从而得到温度和应变的变化量与谐振峰强度与波长的变化矩阵；步骤四：通过光谱仪检测细芯光纤马赫曾德透射谱谐振峰的波长变化值△λ和强度变化值△P，带入步骤三的变化矩阵中，得出环境温度和应变的改变情况。
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