[发明专利]一种微观结构表面的三维信息采集方法及系统在审
| 申请号： | 201710121263.1 | 申请日： | 2017-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN106885530A | 公开（公告）日： | 2017-06-23 |
| 发明（设计）人： | 陈广学;张凯丽;陈奇峰;俞朝晖;陈晨 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B5/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 谭承世 |
| 地址： | 510000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微观结构表面的三维信息采集方法及系统，该方法包括控制X‑Y二维平移台平移，使X‑Z二维激光轮廓仪相对于待测物体沿Y轴方向运动的位移为预设扫描长度，在每次间隔长度为预设扫描分辨率时，控制二维激光轮廓仪采样获取一行扫描数据，从而得到多行扫描数据，实现一个矩形扫描面的三维数据采集；控制二维平移台平移，使二维激光轮廓仪相对于待测物体沿X轴方向每次平移预设偏移长度，完成一个矩形扫描面的三维数据采集，直至完成所有所述矩形扫描面的三维数据采集；合并所有所述矩形扫描面的三维数据，建模得出待测物体的三维轮廓图。通过使用该方法，可利用已有二维激光轮廓仪实现对文物的三维信息采集。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微观 结构 表面 三维 信息 采集 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种微观结构表面的三维信息采集方法，其特征在于，所述方法包括：控制X‑Y二维平移台平移，使X‑Z二维激光轮廓仪相对于待测物体沿Y轴方向运动的位移为预设扫描长度，在每次间隔长度为预设扫描分辨率时，控制X‑Z二维激光轮廓仪采样获取一行扫描数据，从而得到多行扫描数据，实现一个矩形扫描面的三维数据采集；控制所述X‑Y二维平移台平移，使所述X‑Z二维激光轮廓仪相对于所述待测物体沿X轴方向每次平移预设偏移长度，完成一个矩形扫描面的三维数据采集，直至完成所有所述矩形扫描面的三维数据采集；合并所有所述矩形扫描面的三维数据，建模得出待测物体的三维轮廓图。
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