[发明专利]一种基于卷曲薄膜的氢气检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710120402.9 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN106959272A 公开(公告)日: 2017-07-18
发明(设计)人: 梅永丰;胥博瑞 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/33;G01N21/61
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于气体检测技术领域,具体为一种基于基于卷曲薄膜的氢气检测装置及方法。氢气检测装置包括:光源,检测腔,基于透明卷曲薄膜阵列的检测组件,光信号采集设备。光信号采集设备可以连接响应阈值判别组件和报警器。氢气检测方法包括如下步骤:光源照射含有待测气体的检测设备到达光信号采集设备;光信号采集设备采集并输出光强、透射率或吸收率数据;通过比对输出数据的变化与否可以确定待测气体内是否含有氢气组分。本发明的氢气检测装置没有与氢气的直接电学接触,因而有着较高的安全性;无需复杂的光源系统和光信号采集系统;且检测设备的制备方法较为简单,可进行大规模生产,成本较低,因此具有实际应用意义。
搜索关键词: 一种 基于 卷曲 薄膜 氢气 检测 装置 方法
【主权项】:
一种基于卷曲薄膜的氢气检测装置,其特征在于,包括:光源,其用于发射光信号;检测设备,包括检测腔和检测组件,检测组件位于检测腔内;光信号采集设备,其用于采集透射光信号,得到光强、透射率或吸收率数据;其中,所述光源位于所述检测设备一侧,所述光源的光线透过所述检测设备照射到所述光信号采集设备;所述光信号采集设备收集透射光信号并转换成光强、透射率或吸收率数据;所述检测组件为透明卷曲薄膜阵列结构。
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