[发明专利]双吸嘴式转塔机台有效
| 申请号： | 201710098099.7 | 申请日： | 2017-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN108469564B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 傅廷明 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 郭晓宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种双吸嘴式转塔机台，用于对多个电子元件进行测试，包括多个测试座、多个第一吸嘴、多个第二吸嘴以及一料带。该多个测试座包括多个第一测试座以及多个第二测试座，该多个第一测试座沿周向对应多个第一吸嘴所绕行的第一圆形轨迹，该多个第二测试座沿周向对应多个第二吸嘴所绕行的第二圆形轨迹，该多个第一测试座以一对一的方式径向对应该多个第二测试座。料带包括多个容置槽，该第一吸嘴以及该第二吸嘴设于该测试转盘，其中，在一第一状态下，该第一吸嘴以及该第二吸嘴同时将测试合格的该多个电子元件置入该多个容置槽中。 | ||
| 搜索关键词： | 双吸嘴式转塔 机台 | ||
【主权项】：
1.一种双吸嘴式转塔机台，其特征在于，用于对多个电子元件进行测试，包括：多个第一吸嘴，绕行于一第一圆形轨迹；多个第二吸嘴，绕行于一第二圆形轨迹，该第一圆形轨迹与该第二圆形轨迹为同心圆，且该多个第一吸嘴与该多个第二吸嘴沿该第一圆形轨迹的径向并排；多个测试座，其中，该多个测试座包括多个第一测试座以及多个第二测试座，该多个第一测试座沿周向对应该第一圆形轨迹，该多个第二测试座沿周向对应该第二圆形轨迹，该多个第一测试座以一对一的方式径向对应该多个第二测试座，该多个第一吸嘴分别将该多个电子元件运送至该第一测试座以进行测试，该多个第二吸嘴分别将该多个电子元件运送至该第二测试座以进行测试；以及一料带，包括多个容置槽，其中，在一第一状态下，该第一吸嘴以及该第二吸嘴同时将测试合格的该多个电子元件置入该多个容置槽中。
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