[发明专利]测试电路对侧信道分析的抵抗力的方法

摘要

本发明涉及一种测试电路对侧信道分析的抵抗力的方法，包括获取多个值集，每个值集包括物理量或逻辑信号的值；选择每个值集中的至少第一子集；对于每个值集，对由被应用于该值集的第一子集中的值的第一满射函数变换的值的出现次数计数，以形成该值集的出现次数集；对于运算集中的每个运算以及机密数据的一部分的每个可能值，计算部分运算结果；计算累积出现次数集，其通过将对应于运算的出现次数集相加而获得，当被应用于机密数据部分的可能值的相同值或等价值时，所述运算提供具有应用第二满射函数获得的相同变换值的部分运算结果；根据选定合并方案，合并累积出现次数集中的累积出现次数；以及分析合并后的累积出现次数集以确定机密数据部分。

主权项

一种电路的测试方法，包括：获取多个值集，每个值集包括物理量或逻辑信号的值，当受测试电路执行被应用于相同机密数据的不同密码运算的运算集中的运算时，所述值集与所述电路的活动关联，选择每个值集中的至少第一子集，对于每个值集，通过处理单元对由被应用于该值集的第一子集中的值的第一满射函数变换的值的出现次数计数，以形成该值集的出现次数集，对于所述运算集中的每个运算以及所述机密数据的一部分的每个可能值，通过所述处理单元计算部分运算结果，通过所述处理单元计算累积出现次数集，每个累积出现次数集是通过将对应于所述运算集中的运算的出现次数集相加而获得的，当被应用于所述机密数据的所述部分的可能值的相同值或等价值时，所述运算提供具有应用第二满射函数所获得的相同变换值的部分运算结果，根据选定的合并方案，合并所述累积出现次数集中的累积出现次数或在计算所述累积出现次数之前合并所述出现次数集中的组合出现次数，以及通过所述处理单元分析合并后的累积出现次数集以确定所述机密数据的所述部分，从而知道如果所述机密数据已经泄漏到所述值集中，则在与所述机密数据的所述部分的值对应的所述累积出现次数集中找到所述机密数据。