[发明专利]一种高速电路板智能测试装置在审

专利信息
申请号: 201710090063.4 申请日: 2017-02-20
公开(公告)号: CN106771984A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 刘一清;傅雨晴;张鼎;林顺豪 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙)31215 代理人: 徐筱梅,张翔
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高速电路板智能测试装置,它包括PC机、待测电路板、测试电路、网络数据收发模块、网闸模块和服务器。PC机通过网线与测试电路、网络数据收发模块及网闸模块连接;测试电路通过探针获取待测电路板上的电压信号、频率信号和网络数据,并把网络数据通过测试电路的网口转接到网络数据收发模块。所述的测试电路包括电源模块,MCU模块,测频电路,两个千兆以太网接口,一个百兆以太网接口,探针和JTAG接口。本发明通过对待测电路板进行硬件故障测试和功能测试,为高速电路板的大批量生产提供了智能测试的方案。待测电路板实现功能所需的程序代码都存放在服务器上,通过网闸模块隔离外网,解决了高速电路板生产过程中资料外泄等安全问题。
搜索关键词: 一种 高速 电路板 智能 测试 装置
【主权项】:
一种高速电路板智能测试装置,其特征在于:该装置包括PC机、测试电路、网络数据收发模块、网闸模块和服务器,PC机通过网线与测试电路、网络数据收发模块、网闸模块连接;测试电路与网络数据收发模块连接,网闸模块与服务器连接,隔离外网,保障服务器中的数据安全;其中:所述测试电路包括电源模块、MCU模块、测频电路、两个千兆以太网接口,一个百兆以太网接口、探针和JTAG接口,电源模块与MCU模块、测频电路、两千兆以太网接口、百兆以太网接口和JTAG接口连接;MCU模块与测频电路、百兆以太网接口连接;电源模块、MCU模块、测频电路、千兆以太网接口和JTAG接口均接有数个探针。
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