[发明专利]测量方法有效

专利信息
申请号: 201710088418.6 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN107121058B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 酒井裕志;渡边裕;高滨康弘;伊藤明正;工藤雄治 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了对有弯曲形状的目标物体测量距测量头的距离而测量所述目标物体的表面的方法,特征在于包括以下步骤:设定目标物体的测量范围和凹凸的阈值的步骤;获取包含目标物体的弯曲形状的形状基准数据的步骤;测量在测量范围中的目标物体和测量头之间的距离,获取目标物体的表面的三维数据的步骤;从三维数据除去形状基准数据来获取弯曲除去数据的步骤;基于弯曲除去数据求第1基准数据,求将对于第1基准数据超过阈值的数据从弯曲除去数据除外进行平均的第2基准数据的步骤;以及提取对于第2基准数据超过阈值的数据,求凹凸的形状数据的步骤。
搜索关键词: 测量方法
【主权项】:
一种测量方法,对有弯曲形状的目标物体测量距测量头的距离而测量所述目标物体的表面,其特征在于,包括以下步骤:设定所述目标物体的测量范围和凹凸的阈值的步骤;获取包含所述目标物体的弯曲形状的形状基准数据的步骤;测量在所述测量范围中的所述目标物体和所述测量头之间的距离,获取所述目标物体的表面的三维数据的步骤;从所述三维数据除去所述形状基准数据而获取弯曲除去数据的步骤;基于所述弯曲除去数据求第1基准数据,求将对于所述第1基准数据超过所述阈值的数据从所述弯曲除去数据除外进行平均的第2基准数据的步骤;以及从所述弯曲除去数据提取对于所述第2基准数据超过所述阈值的数据,求凹凸的形状数据的步骤。
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