[发明专利]一种H桥输出波形死区时间的测试方法

摘要

本发明公开了一种H桥输出波形死区时间的测试方法,包括如下步骤：a)先选取第一功率电阻R1和第二功率电阻R2；b)将第一功率电阻R1并联在H桥的一个桥臂上，将第二功率电阻R2并联在H桥的另一个桥臂上；c)将第一功率电阻R1和第二功率电阻R2串接相连并与H桥的接地端G相连，使用一个示波器表笔测量H桥的输出端T2相对接地端G间的波形；d)放大测量波形，获得被测H桥输出端的死区时间。本发明通过在H桥的两个桥臂上并联功率电阻，可实现对H桥输出端死区时间的直接测试，便于观察和操作，无间接测量带来的误差影响，且无需采用差分表笔就能够方便有效地测试H桥输出端死区时间，从而使得H桥电路损耗更低，输出效率更高。

主权项

1.一种H桥输出波形死区时间的测试方法,其特征在于，包括如下步骤：/na)先选取第一功率电阻R1和第二功率电阻R2；/nb)将第一功率电阻R1并联在H桥的一个桥臂上，将第二功率电阻R2并联在H桥的另一个桥臂上；/nc)将第一功率电阻R1和第二功率电阻R2串接相连并与H桥的接地端G相连，使用一个示波器表笔测量H桥的输出端T2相对接地端G间的波形；/nd)放大测量波形，获得被测H桥输出端的死区时间；/n所述步骤b)中第一功率电阻R1与H桥中上桥臂开关管的上下两端并联，第二功率电阻R2与H桥中下桥臂开关管的上下两端并联；/n所述步骤c)包括测量如下三个连续时间段的区间波形：/n第一区间波形：控制上桥臂开关管Q3导通，下桥臂开关管Q4关闭，示波器测量出来的电平值Vtest接近供电电压VBAT；/n第二区间波形：当桥臂状态发生变化时，上桥臂开关管Q3先关闭，然后下桥臂开关管Q4再导通；在上桥臂开关管Q3有效关闭后，下桥臂开关管Q4还未导通时，上桥臂开关管Q3，下桥臂开关管Q4均处于关闭状态，此时示波器测量出来的电平值Vtest是第一功率电阻R1与第二功率电阻R2对供电电压VBAT的分压结果；/n第三区间波形：接下来上桥臂开关管Q3有效关闭，下桥臂开关管Q4有效导通，此时示波器测量出来的电平值Vtest接近参考地GND；/n所述步骤d)放大上述三个连续时间段的区间波形，其中，所述第二区间波形对应的时间段即为被测H桥输出端的死区时间。/n