[发明专利]中子闪烁体位敏探测器测试系统及方法有效
| 申请号： | 201710073862.0 | 申请日： | 2017-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN106772548B | 公开（公告）日： | 2018-04-10 |
| 发明（设计）人： | 李仪;滕海云;孙志嘉;唐斌;杨雷;王艳凤;许虹;赵晓芳;陈平平 | 申请（专利权）人： | 东莞理工学院;东莞中子科学中心 |
| 主分类号： | G01T3/06 | 分类号： | G01T3/06 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 张艳美,龙莉苹 |
| 地址： | 523808 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种中子闪烁体位敏探测器测试系统，包括脉冲光源模拟装置、光学处理模块、机械扫描平台和数据获取模块，所述脉冲光源模拟装置输出脉冲光信号，所述光学处理模块将所述脉冲光信号进行衰减、偏振、扩束处理后，通过一光纤准直器进行准直处理并固定至所述机械扫描平台上，且使所述脉冲光信号照射在待测的中子闪烁体位敏探测器的波移光纤的测试点上，脉冲光信号通过所述波移光纤输出光子到有多路通道的被测光电倍增管，所述数据获取模块获取所述被测光电倍增管的被测信号。本发明通过脉冲激光模拟中子激发闪烁体发出的光源，获得从波移光纤到光电倍增管各个通道的性能参数，实现在无放射源环境中核探测器的检测和测试。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 闪烁 体位 探测器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种中子闪烁体位敏探测器测试系统，其特征在于：包括脉冲光源模拟装置、光学处理模块、机械扫描平台和数据获取模块，所述脉冲光源模拟装置输出脉冲光信号，所述光学处理模块将所述脉冲光信号进行衰减、偏振、扩束处理后通过多模光纤输送至光纤准直器，且所述多模光纤的一部分弯曲缠绕形成环形的小半径盘绕部分，另一部分弯曲缠绕形成环形的大半径盘绕部分，所述大半径盘绕部分的半径大于所述小半径盘绕部分，所述脉冲光信号依次经过所述小半径盘绕部分和大半径盘绕部分进行消模处理后，通过所述光纤准直器进行准直处理并固定至所述机械扫描平台上，且使所述脉冲光信号照射在待测的中子闪烁体位敏探测器的波移光纤的测试点上，脉冲光信号通过所述波移光纤输出光子到有多路通道的被测光电倍增管，所述数据获取模块获取所述被测光电倍增管放大后的被测信号。
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