[发明专利]测试分选机用插件

摘要

本发明涉及一种测试分选机用插件。本发明公开一种通过在形成于插件的支撑部件上的开放孔或者形成于防脱突起上的引导槽上形成具有与半导体元件的端子大小相等的半径的引导部而精确设定半导体元件的位置来提高产品可靠性的技术。

主权项

1.一种测试分选机用插件，其特征在于，包括：/n主体，形成有用于插入半导体元件的插孔；/n支撑部件，从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件；/n固定部件，将所述支撑部件固定于所述主体；/n闩锁装置，用于将半导体元件保持在所述插孔内，/n其中，所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔，以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧，/n所述开放孔中的至少一个特定开放孔形成于当半导体元件立为竖直状态时能够使处于最下侧的端子插入的位置上，以引导并设定半导体元件的端子的位置，据此能够精确设定半导体元件的位置，/n所述特定开放孔的至少一部分区间的曲率半径设置为大于除了所述特定开放孔以外的普通开放孔的曲率半径，同时使所述特定开放孔的下端处于比水平方向上并排布置的所述普通开放孔的下端高出预定高度的位置上，从而半导体元件立为竖直状态时，半导体元件的端子的位置设定为在除了所述特定开放孔以外的普通开放孔处半导体元件的端子的下端不与普通开放孔的下端接触，然而半导体元件的端子的中心却与所述普通开放孔的中心一致。/n