[发明专利]一种烧录测试方法和系统在审
| 申请号： | 201710041036.8 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN106841985A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 罗红生;贺旭明;彭久高;吴海全;师瑞文 | 申请（专利权）人： | 深圳市冠旭电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F9/445 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人： | 赵强 |
| 地址： | 518116 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于电子技术领域，提供了一种烧录测试方法和系统，旨在解决现有技术中烧录测试效率低，操作复杂的问题。所述方法包括烧录设备若检测到烧录请求，则将待烧录的程序烧录至预设个数的印刷电路板的存储器；测试设备检测测试请求；所述测试设备根据所述测试请求对所述印刷电路板进行校频测试和射频测试。本发明的技术方案通过将校频测试从烧录工序调整到功率测试工序，使得烧录工序只负责烧录，并可一次性完成对多个印刷电路板的程序烧录，从而简化操作过程，提高烧录测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种烧录测试方法，其特征在于，所述烧录测试方法包括：烧录设备若检测到烧录请求，则将待烧录的程序烧录至预设个数的印刷电路板的存储器；测试设备检测测试请求；所述测试设备根据所述测试请求对所述印刷电路板进行校频测试和射频测试。
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