[发明专利]高压下物质居里温度的测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201710022269.3 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN107044995B 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 张涛;李政;韩冰;陈祥文 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01N25/12 分类号: G01N25/12
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 王淑秋
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种高压下物质居里温度的测量系统及其测量方法,该系统中样品放置在金刚石对顶砧的金属封垫中央的样品腔内,金刚石对顶砧的两个金刚石压紧样品;激光器的光束经金刚石对顶砧聚焦于样品;激励线圈连接交流源的两个电极,感应线圈套在金刚石对顶砧的其中一个金刚石上并靠近样品;补偿线圈与感应线圈平行放置在激励线圈内部并且两者串联反接;锁相放大器由交流源提供参考信号,同时接收感应线圈和补偿线圈的磁感应信号并进行放大和检测;样品温度测量装置布置在靠近样品的位置;锁相放大器和样品温度测量装置的输出连接到信号采集及处理装置。本发明实现了高压下对物质居里温度点的测量,拓宽了高压下磁性测量的可测量参数的范围。
搜索关键词: 压下 物质 居里 温度 测量 系统 测量方法
【主权项】:
1.一种高压下物质居里温度的测量系统,其特征在于包括激光器(11),金刚石对顶砧(13),由激励线圈(21)、感应线圈(22)、补偿线圈(23)和交流源(24)组成的信号探测部分,由样品温度测量装置和锁相放大器(34)组成的信号测量部分,信号采集及处理装置(41),电磁铁,特斯拉计(31);样品(1)放置在金刚石对顶砧(13)的金属封垫(135)中央的样品腔(1351)内,金刚石对顶砧(13)的两个金刚石压紧样品(1);激光器(11)的光束经金刚石对顶砧(13)其中一个金刚石托块上的观测窗口聚焦于样品(1);激励线圈(21)连接交流源(24)的两个电极,感应线圈(22)套在金刚石对顶砧(13)的其中一个金刚石上并靠近样品(1);补偿线圈(23)与感应线圈(22)平行放置在激励线圈(21)内部并且两者串联反接;锁相放大器(34)由交流源(24)提供参考信号,同时接收感应线圈(22)和补偿线圈(23)的磁感应信号并进行放大和检测;样品温度测量装置布置在靠近样品(1)的位置;锁相放大器(34)和样品温度测量装置的输出连接到信号采集及处理装置(41;样品(1)、金刚石对顶砧(13)和信号探测部分布置在电磁铁的两个极头(121、122)之间的空间;电磁铁的两个极头(121、122)对准金刚石对顶砧(13)的顶部,电磁铁的两个极头(121、122)上分别打孔(1211、1221),两个孔(1211、1221)分别对准金刚石对顶砧(13)两个金刚石托块上的观测窗口;特斯拉计(31)的霍尔探头固定安置在电磁铁的一个极头上,且其输出连接到信号采集及处理装置(41)。
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