[发明专利]一种水稻叶片组织光学特性参数的反演方法和测量装置在审
申请号: | 201710014518.4 | 申请日: | 2017-01-09 |
公开(公告)号: | CN106770047A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 岑海燕;李晓冉;翁海勇;何勇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/59 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种水稻叶片组织光学特性参数的反演方法和测量装置,其中反演方法包括以下步骤建立水稻叶片光学各向同性的单层组织模型,采用蒙特卡罗模拟程序建立以光学特性参数作为输入,以测量参数作为输出的训练数据库;利用标准仿体的光学特性参数和测量参数对训练数据库进行校正;建立BP神经网络,利用校正后的训练数据库对所述的BP神经网络进行训练;测量待测水稻叶片组织的测量参数,利用训练后的BP神经网络以待测水稻叶片组织的测量参数反演待测水稻叶片组织的光学特性参数。本发明采用神经网络算法进行组织光学特性参数的反演,适用于水稻叶片的实际情况,同时提高了计算速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 水稻 叶片 组织 光学 特性 参数 反演 方法 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种水稻叶片组织光学特性参数的反演方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)建立水稻叶片光学各向同性的单层组织模型,采用蒙特卡罗模拟程序建立以光学特性参数作为输入,以测量参数作为输出的训练数据库;所述的光学特性参数为吸收系数和散射系数;所述的测量参数为漫反射率和漫透射率;(2)测量已知光学特性参数的标准仿体的测量参数,利用标准仿体的光学特性参数和测量参数对训练数据库进行校正;(3)建立BP神经网络,利用校正后的训练数据库对所述的BP神经网络进行训练;(4)测量待测水稻叶片组织的测量参数,利用训练后的BP神经网络以待测水稻叶片组织的测量参数反演待测水稻叶片组织的光学特性参数。
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