[发明专利]一种基于稀疏光照采样的场景光度遮挡计算方法在审
| 申请号： | 201710007991.X | 申请日： | 2017-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN106846453A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 冯伟;孙济洲;张乾;尚亚飞;马雨薇 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06T15/50 | 分类号： | G06T15/50;G06T15/60;G06T15/80 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 吴学颖 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于稀疏光照采样的场景光度遮挡计算方法，包括以下步骤选择稀疏光照采样场景作为输入图像，建立输入图像中像素的实际分布模型和理论分布模型；构建相对熵模型和相对熵能量函数；对相对熵能量函数进行最小化求解，得到输入图像中物体表面的反照率和方向光的强度值的乘积，确定出输入图像中物体表面的反照率；根据期望模型确定输入图像的环境光遮蔽。本发明利用少量的输入图像，通过对图像中每个像素点进行统计，求得所有像素点的概率分布情况，根据实际观测的概率分布情况估计像素点的理论分布情况，根据最小化相对熵模型得到最优的理论分布，求得输入图像的反照率，通过期望模型计算出图像场景的环境光遮蔽。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 稀疏 光照 采样 场景 光度 遮挡 计算方法 | ||
【主权项】：
一种基于稀疏光照采样的场景光度遮挡计算方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，选择稀疏光照采样场景作为输入图像，建立输入图像中像素的实际分布模型和理论分布模型；步骤二，在步骤一中实际分布模型和理论分布模型的基础上，构建相对熵模型和相对熵能量函数；步骤三，对步骤二中相对熵能量函数进行最小化求解，得到输入图像中物体表面的反照率和方向光的强度值的乘积，确定出输入图像中物体表面的反照率；步骤四，基于步骤三中输入图像中物体表面的反照率和方向光的强度值的乘积，根据期望模型确定输入图像的环境光遮蔽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学，未经天津大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710007991.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
