[发明专利]诊断电磁烹饪装置的方法、电磁烹饪装置有效
| 申请号： | 201680089180.2 | 申请日： | 2016-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN109691227B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | R·迪马尔蒂诺;G·多尔;F·乔达诺 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H05B6/72 | 分类号： | H05B6/72 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 黄纶伟;李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于诊断电磁烹饪装置的方法、电磁烹饪装置。该方法包括：从射频电磁波的带宽中的一组频率中选择频率；对一组射频馈源的子集进行设定以输出具有所选择的频率的射频信号；测量该组射频馈源的正在输出所述射频信号的子集的前向功率电平；测量该组射频馈源的前向功率电平和后向功率电平；以及处理所述前向功率电平和所述后向功率电平的测量结果，以基于对所述前向功率电平和所述后向功率电平的测量结果的该处理来确定所述电磁烹饪装置的工作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 诊断 电磁 烹饪 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于诊断电磁烹饪装置的方法，该电磁烹饪装置包括一组射频馈源，各馈源包括放大组件和测量组件，所述放大组件被配置成输出相对于输入射频信号放大了功率的信号，所述测量组件输出表示在所述放大组件处检测到的射频功率的数字信号，所述方法包括以下步骤：从射频电磁波的带宽中的一组频率中选择频率；将所述一组射频馈源的子集设定成输出具有所选择的频率的射频信号；测量所述一组射频馈源中正在输出所述射频信号的子集的前向功率电平；测量该组装置的后向功率电平；对所述前向功率电平和所述后向功率电平的测量结果进行处理，以基于对所述前向功率电平和所述后向功率电平的测量结果的该处理来确定所述电磁烹饪装置的工作状态。
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